ZY-MIT135紙張耐折度試驗(yàn)機(jī)是通過模擬材料反復(fù)折疊過程，精準(zhǔn)測定其抗疲勞性能與柔韌性的專業(yè)檢測設(shè)備。其核心原理是通過機(jī)械裝置對試樣施加周期性彎曲應(yīng)力，記錄材料在斷裂前承受的最大折疊次數(shù)，從而量化評估材料的耐折強(qiáng)度。

產(chǎn)品介紹：

ZY-MIT135紙張耐折度試驗(yàn)機(jī)是通過模擬材料反復(fù)折疊過程，精準(zhǔn)測定其抗疲勞性能與柔韌性的專業(yè)檢測設(shè)備。其核心原理是通過機(jī)械裝置對試樣施加周期性彎曲應(yīng)力，記錄材料在斷裂前承受的最大折疊次數(shù)，從而量化評估材料的耐折強(qiáng)度。

測試原理：

耐折度是指紙或紙板在一定張力下所能承受往復(fù)135度的雙折次數(shù)，以往復(fù)折疊次數(shù)或按以10為底的雙折次數(shù)對數(shù)值表示，記錄折斷時(shí)所用次數(shù)即為耐折度。

技術(shù)參數(shù)：

核心檢測性能

1、耐折次數(shù)（Folding Endurance）

單位：次（cycles）

定義：試樣在特定張力下承受折疊至斷裂的總次數(shù)

應(yīng)用場景：包裝用紙抗運(yùn)輸折疊能力評估

2、斷裂功（Breaking Work）

單位：mJ（毫焦）

定義：材料從折疊到斷裂過程中消耗的總能量

應(yīng)用場景：文化用紙韌性優(yōu)化設(shè)計(jì)

3、折疊疲勞曲線分析

輸出參數(shù)：疲勞衰減速率、拐點(diǎn)位置

應(yīng)用場景：特種紙耐久性研究

ZY-MIT135紙張耐折度試驗(yàn)機(jī)性能特點(diǎn)：

智能交互系統(tǒng)

配備 7 英寸工業(yè)級觸控屏，搭載中英雙語智能交互界面，支持一鍵切換操作語言。圖形化菜單設(shè)計(jì)直觀顯示測試參數(shù)（含角度 / 張力 / 次數(shù)等 12 項(xiàng)核心指標(biāo)），支持手勢縮放與曲線動態(tài)查看。

模塊化測試配置

標(biāo)配 3 組折疊頭（135°/180°/ 自定義角度）及 5 種標(biāo)準(zhǔn)砝碼（5-100N），可通過快速卡扣接口實(shí)現(xiàn) 1 分鐘內(nèi)配件更換。支持非標(biāo)折疊頭定制（如 V 型槽結(jié)構(gòu)），滿足特殊材料測試需求。

全參數(shù)智能調(diào)控

采用伺服驅(qū)動系統(tǒng)，支持：

張力范圍：5-100N（精度 ±0.1N）

折疊速度：100-200 次 / 分鐘（步進(jìn)調(diào)節(jié)）

角度調(diào)節(jié)：90°-180°（0.1° 級微調(diào)）

預(yù)設(shè)定程序：可存儲 10 組常用測試方案

智能安全管理

集成三重防護(hù)系統(tǒng)：

斷電記憶：自動保存當(dāng)前測試進(jìn)度及參數(shù)設(shè)置

緊急制動：紅色急停按鈕 0.1 秒內(nèi)切斷動力源

過載保護(hù)：當(dāng)張力超過設(shè)定值 110% 時(shí)自動停機(jī)

全自動測試流程

搭載 AI 斷裂識別算法，實(shí)現(xiàn)：

自動判定試樣斷裂狀態(tài)（準(zhǔn)確率≥99.8%）

斷點(diǎn)數(shù)據(jù)自動保存（含時(shí)間戳、測試階段曲線）

測試完成后自動復(fù)位并清潔夾具

長效散熱設(shè)計(jì)

采用雙通道風(fēng)冷系統(tǒng)，配合溫度傳感器動態(tài)調(diào)控風(fēng)扇轉(zhuǎn)速。在 24 小時(shí)連續(xù)測試場景下，設(shè)備溫升控制在 15℃以內(nèi)，確保長期運(yùn)行穩(wěn)定性。

擴(kuò)展數(shù)據(jù)功能

標(biāo)配 RS485 通訊接口，可選配 WiFi 模塊實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)上傳

支持電腦端專用軟件（ZY-NZZ Manager），可生成動態(tài)測試曲線（X-Y 軸自定義）

測試報(bào)告自動生成 PDF 文件，含測試標(biāo)準(zhǔn)、原始數(shù)據(jù)及統(tǒng)計(jì)分析

工業(yè)級可靠性

關(guān)鍵部件采用 304 不銹鋼 + 鋁合金材質(zhì)，表面靜電噴涂處理

通過 CE 認(rèn)證，符合 ISO 5626、GB/T 2679.5 等國際標(biāo)準(zhǔn)

整機(jī)設(shè)計(jì)壽命：≥50 萬次測試循環(huán)